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在上篇【 AI 晶片中的關鍵把關角色-探針卡】的產業分析中提到,隨著晶片腳數增加與間距微縮,傳統探針卡已難以應付,高階測試的主流將由 MEMS 探針卡主導。本篇報告將解析精測(市:6510)如何在 AI 世代透過混針技術與「All In House」策略,讓它從傳統探針卡廠,轉型為 AI、HPC 測試的關鍵節點。
中華精測(市:6510)成立於 2005 年,專注於晶圓測試卡與 IC 測試載板的研發製造,目前主要業務為提供半導體晶圓測試(Chip Probing, CP)與成品測試(Final Test, FT)的介面解決方案,產品廣泛應用於手機應用處理器(AP)、HPC 與 AI 等高階晶片測試領域。
在半導體測試流程中,精測的角色並非單純提供耗材,而是直接影響晶圓測試良率與先進封裝成功率的「第一道關卡」。
晶圓製造檢測流程圖

精測產品
精測 - 大面積、高針腳數的測試介面卡
精測採取『All in House』的策略,降低對外找尋供應商的成本,同時不將品質變異的風險交到他人手上,從材料研發、藥水配方、電路板製作及生產檢驗到整合測試皆由內部自製;雖犧牲了部分資產彈性,卻擁有對卻擁有對產能高度控制權。
這種策略解決了不同廠商間協調的時間成本,把數週的除錯流程變成內部可即時修正,此外,為應對地緣政治與技術斷鏈的風險,將自製的範疇延伸至生產設備,確保在面對超高溫、大電流等極端測試需求時,無需等待設備廠商的調整,實現了從關鍵元件到應變工具的自主可控,讓『速度』成為特別的優勢。
在 AI 晶片快速迭代的環境下,精測能更快接單,搶下高難
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